RTX-113X 光检测系统
一种独特的 X 光检测系统、旨在对多层和组合式印刷电路板提供快速而可靠的检测。

RTX-113 为繁忙的生产环境设计、在该环境中可以使用 X 光检测包含 BGAs、uBGAs 和 Flip Chips 等高级元器件的 PCBs 以及组合式 PCBs。该系统用途很广、并装备了获得 Glenbrook 专利的 X 光成像技术、能够提供高分辨率、高灵敏度的图像、可在直径一英寸的视场内分辨出 0.001 英寸的缺陷。 RTX-113 提供物美价廉的实时 X 光成像、安全的操作以及便利的维护。


              带CPU图像处理器的X光检测系统

带RTVA图像处理器的X光检测系统

RTX-113HV站
一个功能强大的实时 X 光检测系统、专门用来对采用致密金属 BGAs 封装的多层和组合式印刷电路板进行快速而可靠的检测。

RTX-113HV 系统能完全满足您检测 BGA 封装，包括许多新出现的内含致密金属散热片的 BGAs 封装的需要、这些金属散热片需要有很高电压的 X 光源才能对产品故障做出清楚判断并加以排除。 为了满足这些新式 BGA 封装的检测要求、Glenbrook 开发了新的 "HV" 型系统、该系统使用 70kV 强电压的 X 射线管、能够对很致密的金属元件进行质量检测。 经过改造的外壳设计甚至可以很方便地集成到最繁忙的生产环境中、并可以完全升级。

Jewel Box Series
Jewel Box X 光检测系统可提供具有很高分辨率以及灰度准确性的图像。

尽管与 x 光检测系统比较起来、Jewel Box Series 的大小只是其一半、但却可以提供采用 360o 旋转的五轴控制。Jewel Boxes 的性价比是 X 光系统的两倍乃至更多。

Jewel Box 70-T 使用 10 微米的 X 光源、可将目标放大 7X 或以上、最多可放大 500X（分辨率为 100 线对/毫米）。

Jewel Box 90-C配有一个 4 微米的 X 光源、其放大范围是 7X 至 2000X（分辨率为 500 线对/毫米）